仪器名称
透射电子显微镜
仪器型号
JEM2100,配备Oxford能谱仪
生产厂家
日本电子株式会社(JEOL)
投入使用日期
2015年6月
功能与用途
能看到材料内部更小的微结构,可对材料在原子尺度进行分析:
(1) 观察样品微观组织形貌;
(2) 分析样品内部结构,如晶体类型及缺陷、晶粒大小与型态、晶界及位相关系等;
(3) 结合能谱进行显微化学成分分析。
性能指标
1.分辨率:点分辨率:≤0.23nm;线分辨率:≤0.14nm
2. 加速电压:最高加速电压: 200kV
3. 放大倍数:最小放大倍数: 50×
最大放大倍数: 1,500,000×
安放位置
综合楼B105室
管理人员
胡晓阳
透射电子显微镜制样设备
Model 601,Model 656, Gatan 695.C
Gatan
2015年12月
鉴于透射电子显微镜对所观察样品的要求,必须通过超声切割仪、研磨把金属、陶瓷等块体样品制备成直径3毫米且厚度小于70微米的圆片状,然后再通过凹坑仪和离子减薄仪在样品中心区域得到可供透射电子束穿过的有效薄区。
1. 601用于切割金属陶瓷等样品直径为3mm的圆片;
2. 656凹坑仪让样品预先得到一个薄区范围,减少离子减薄的时间,提高效率;控制精度:1μm;
3. 695离子减薄仪:
离子枪束能量:0.1keV~8keV,可在不同电压下自动优化离子束束流;
减薄角度:+10°到-10°,每支离子枪可独立调节;
带有液氮冷台,以及控温系统,一次加注液氮续航能力6-8小时。
综合楼B106室
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